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标准名称[供参考] |
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| DIN 50432 :1980[作废] | 无机半导体材料的检验.通过整流试验或热探针法测定硅和锗的异电类型 DIN50432 | DIN50432 | DIN50432 |
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| DIN 50433-2 :1976[作废] | 无机半导体材料的检验.第2部分:采用反射光影法测定单晶体取向 DIN50433 | DIN50433-2 | DIN50433-2 |
| DIN 50433-3 :1982[作废] | 半导体工艺材料的检验.第3部分:采用劳埃反向散射法测定单晶体取向 DIN50433 | DIN50433-3 | DIN50433-3 |
| DIN 50434 :1986[作废] | 半导体工艺材料的检验.对(111)和(100)表面采用蚀刻技术的单晶硅的晶体结构缺陷的测定 DIN50434 | DIN50434 | DIN50434 |
| DIN 50435 :1988 | 半导体材料试验:采用四探针/直流法测量硅片和锗片电阻率的径向变化 DIN50435 | DIN50435 | DIN50435 |
| DIN 50436 :1976[作废] | 无机半导体材料的试验.用堆垛缺陷法测量硅外延生长层的冶金厚度 DIN50436 | DIN50436 | DIN50436 |
| DIN 50437 :1979 | 半导体无机材料的试验.用红外线干涉法测量硅外延生长层的的厚度 DIN50437 | DIN50437 | DIN50437 |
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| DIN 50438-3 :2000[作废] | 半导体工艺材料试验.红外线吸收法测量硅片杂质含量.第3部分:硼和磷 DIN50438 | DIN50438-3 | DIN50438-3 |
| DIN 50439 :1982[作废] | 半导体技术材料的试验.用电容--电压法和水银接点确定单晶层半导体材料中掺杂剂的浓度分布曲线 DIN50439 | DIN50439 | DIN50439 |
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| DIN 5044-1 :1981[作废] | 固定式交通照明.汽车交通的道路照明. DIN5044 | DIN5044-1 | DIN5044-1 |
| DIN 50441-1 :1996[作废] | 半导体工艺材料试验.半导体片几何尺寸测量.第1部分:厚度和厚度变化 DIN50441 | DIN50441-1 | DIN50441-1 |
| DIN 50441-2 :1998 | 半导体工艺材料的试验.半导体芯片几何尺寸的测量.第2部分:棱角剖面的试验 DIN50441 | DIN50441-2 | DIN50441-2 |
| DIN 50441-3 :1985 | 半导体工艺材料的检验.第3部分:半导体切片几何尺寸的测量.第3部分:用多射线干涉法测定抛光切片的平面偏差 DIN50441 | DIN50441-3 | DIN50441-3 |
| DIN 50441-4 :1999 | 半导体工艺用材料的试验.半导体圆片几何尺寸的测定.第4部分:圆片直径.直径变化量.扁片直径.扁片长度和扁片厚度 DIN50441 | DIN50441-4 | DIN50441-4 |
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| DIN 50444 :1984[作废] | 半导体工艺材料的检验.比电阻与掺杂浓度的换算.硅 DIN50444 | DIN50444 | DIN50444 |
| DIN 50445 :1992[作废] | 半导体工艺材料检验.用涡流法无接触测定电阻率.均匀掺杂半导体片 DIN50445 | DIN50445 | DIN50445 |
| DIN 50446 :1995 | 半导体工艺材料的检验.硅晶体外延层缺陷种类和缺陷密度的测定 DIN50446 | DIN50446 | DIN50446 |
| DIN 50447 :1995 | 半导体工艺材料的检验.用涡流法无接点测量半导体层的表面电阻 DIN50447 | DIN50447 | DIN50447 |
| DIN 50448 :1998 | 半导体工艺材料试验.使用电容式探测器对半绝缘半导体切片电阻率的无接触测定 DIN50448 | DIN50448 | DIN50448 |
| DIN 50449-1 :1997[作废] | 半导体工艺用材料的检验.通过红外线吸收测定Ⅲ-Ⅴ-连接半导体杂质含量.第1部分:砷化镓中的碳素 DIN50449 | DIN50449-1 | DIN50449-1 |
| DIN 50449-2 :1998 | 半导体工艺材料试验.通过红外线吸收测定半导体中杂质含量.第2部分:砷化镓中的硼 DIN50449 | DIN50449-2 | DIN50449-2 |
| DIN 5045 :1963[作废] | DIN 5045-1963[] DIN5045 | DIN5045 | DIN5045 |
| DIN 50450-1 :1987 | 半导体工艺材料的检验.载运气体和添加剂气体中杂质的测定.用五氧化二磷电池测定氢、氧、氮、氩和氦中的水杂质 DIN50450 | DIN50450-1 | DIN50450-1 |
| DIN 50450-2 :1991 | 半导体工艺材料的检验.载运气体和混合气体中杂质的测定.第2部分:用原电池测定氮(下标2)、氩、氦、氖、氢(下标2)中的氧杂质 DIN50450 | DIN50450-2 | DIN50450-2 |
| DIN 50450-3 :1991 | 半导体工艺材料的检验.载运气体和混合气体中杂质的测定.第3部分:用火焰电离检验测器测定氢(下标2)、氧(下标2)、氮(下标2)、氩、氦中的甲烷杂质 DIN50450 | DIN50450-3 | DIN50450-3 |
| DIN 50450-4 :1993 | 半导体工艺材料的检验.运载气体和掺杂剂气体中杂质的测定.用气相色谱法测定氮气中C1－C3烃类化合物 DIN50450 | DIN50450-4 | DIN50450-4 |
| DIN 50450-5 :1994[作废] | 半导体工艺材料的检验.载气和掺杂剂气体中杂质的测定.用五氧化二磷晶粒测定气相氯化氢中的微量水 DIN50450 | DIN50450-5 | DIN50450-5 |
| DIN 50450-6 :1994[作废] | 半导体技术用材料的试验.载气和掺杂气体中杂质的测定.用气体色谱法和火焰电离探测器测定氮气中CO和CO2 DIN50450 | DIN50450-6 | DIN50450-6 |
| DIN 50450-7 :1995[作废] | 半导体工艺材料的检验.载气和掺杂气体中杂质的测定.第7部分:用气相色谱法和还原气体探测器测定氮气中CO和H<下标2> 含量 DIN50450 | DIN50450-7 | DIN50450-7 |
| DIN 50450-8 :2000[作废] | 半导体工艺材料的检验.载体气体和掺杂气体中杂质的测定.第8部分:用激光粒子计数器测定流动氮中粒子数的浓度 DIN50450 | DIN50450-8 | DIN50450-8 |
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