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| 标准号 |
标准名称[供参考] |
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| GB/T 8750-2007 | 半导体器件键合用金丝 GB8750 | GB/T8750 | GB8750 |
| GB/T 875-1986 | 偏平头半空心铆钉 GB8747 | GB/T875 | GB875 |
| GB/T 8752-2006 | 铝及铝合金阳极氧化 薄阳极氧化膜连续性检验方法 硫酸铜法 GB875 | GB/T8752 | GB8752 |
| GB/T 8753.1-2005 | 铝及铝合金阳极氧化 氧化膜封孔质量的评定方法 第1部分:无硝酸预浸的磷铬酸法 GB8752 | GB/T8753.1 | GB8753.1 |
| GB/T 8753.2-2005 | 铝及铝合金阳极氧化 氧化膜封孔质量的评定方法 第2部分:硝酸预浸的磷铬酸法 GB8753 | GB/T8753.2 | GB8753.2 |
| GB/T 8753.3-2005 | 铝及铝合金阳极氧化 氧化膜封孔质量的评定方法 第3部分:导纳法 GB8753 | GB/T8753.3 | GB8753.3 |
| GB/T 8753.4-2005 | 铝及铝合金阳极氧化 氧化膜封孔质量的评定方法 第4部分:酸处理后的染色斑点法 GB8753 | GB/T8753.4 | GB8753.4 |
| GB/T 8754-2006 | 铝及铝合金阳极氧化 阳极氧化膜绝缘性的测定 击穿电位法 GB8753 | GB/T8754 | GB8754 |
| GB/T 8755-1988 | 钛及钛合金术语金相图谱 GB8754 | GB/T8755 | GB8755 |
| GB/T 8756-1988 | 锗晶体缺陷图谱 GB8755 | GB/T8756 | GB8756 |
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