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| 标准号 |
标准名称[供参考] |
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| SJ 2354.3-1983 | PIN、雪崩光电二极管暗电流的测试方法 SJ2354 | SJ/T2354.3 | SJ2354.3 |
| SJ 2354.4-1983 | PIN、雪崩光电二极管正向压降的测试方法 SJ2354 | SJ/T2354.4 | SJ2354.4 |
| SJ 2354.5-1983 | PIN、雪崩光电二极管电容的测试方法 SJ2354 | SJ/T2354.5 | SJ2354.5 |
| SJ 2354.6-1983 | PIN、雪崩光电二极管响应度的测试方法 SJ2354 | SJ/T2354.6 | SJ2354.6 |
| SJ 2354.7-1983 | PIN、雪崩光电二极管光谱响应曲线和光谱响应范围的测试方法 SJ2354 | SJ/T2354.7 | SJ2354.7 |
| SJ 2354.8-1983 | PIN、雪崩光电二极管脉冲上升、下降时间的测试方法 SJ2354 | SJ/T2354.8 | SJ2354.8 |
| SJ 2354.9-1983 | PIN、雪崩光电二极管噪声等效功率的测试方法 SJ2354 | SJ/T2354.9 | SJ2354.9 |
| SJ 2355.1-1983 | 半导体发光器件测试方法 总则 SJ2355 | SJ/T2355.1 | SJ2355.1 |
| SJ 2355.2-1983 | 半导体发光器件测试方法 正向压降的测试方法 SJ2355 | SJ/T2355.2 | SJ2355.2 |
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